关于半导体参数测试仪的询价公告

我校拟采购“半导体参数测试仪”1台，参考指标如下。请公司在报价单中标明企业相关资质（复印件）和授权证明、设备的品牌、规格型号、技术参数、生产厂商、产地、最终报价、质保期、售后服务及联系方式等，并在2009年6月25日17：00前报到中国矿业大学实验室与设备管理处设备采购管理科（外地厂商可传真）。

技术要求：

1.测试中小功率半导体三极管开关参数,
2.功率由100mW至1W的NPN或PNP型晶体管。

3.测量参数：

td 延迟时间
tr 被测晶体管上升时间
ton 晶体管开启时间
ts 存贮时间
tf 被测晶体管下降时间
toff 晶体管下降时间

4.技术指标：

1) 脉冲信号源 ： 频率20KHz ，脉冲宽度:0.7-2.5uS ，±脉冲前沿:≤2nS，

±脉冲幅度: ±10V±0.5V .

2)取样示波器 ： 带宽: 1000MHz .，扫速: 20nS/cm . 50nS/cm . 100nS/cm . 200nS/cm

注：1.国内产品货到验收合格后，付全款。

2.进口产品L/C付款方式

地址:江苏省徐州市中国矿业大学实验室与设备管理处 张萌〈收〉 221116

联系人 ：张萌：0516-83590285 传真：0516－83590285

技术咨询人：任子晖：13615114068

中国矿业大学实验室与设备管理处

2009.6.19